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大成精密多架跟踪同步测量系统

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性能描述

名称:多架跟踪同步测量系统
品牌:深圳大成精密
简介:
多架跟踪同步测量系统,能够分别测量基材、单面、双面的涂布重量, 高精度的运动跟踪轨迹,测量出极片准确位置的实际涂层重量,此系统可应用于X/β面密度测量仪。
产品亮点:
1.天然大理石O架,无应力,保证长期稳定不变形
2.测量精度:<真实值±1‰
3.达到20m/min的有效扫描速度
4.实时的X/Y方向坐标补偿,可以实时恢复由于滚筒打滑等原因造成的同步误差
5.同步跟踪误差<=±3mm(涂布速度<30m/min时)
6.EtherCat工业以太网通讯,最小扫描周期可达1ms
7.同步跟踪误差: 涂布速度<30m/min下,同步误差<=±3mm
产品配置:
1.大理石O架结构
2.射线类型:   根据客户需求选择(Beta或者X)
3.EtherCat现场总线结构,安装维护简单
4.国外进口高精度电离室
5.多层铅板结构防辐射
6.专业的间歇涂布数据处理
7.高级SPC控制图
8.驱动系统:高精度伺服驱动

多架运动控制参数

分类参数

多架跟踪同步测量系统DC-ER-ON-B20

重复精度

±1‰

同步跟踪误差

涂布速度<30m/min下,同步误差<=±3mm

扫描速度

可高达20m/min

机械结构

大理石O架

驱动系统

高精度伺服驱动

辐射屏蔽

500mci 2.5uSv/h
300mci 1uSv/h

适用场合

阴/阳极涂布

  • 参数说明
产品配置:
1.大理石O架结构
2.射线类型:   根据客户需求选择(Beta或者X)
3.EtherCat现场总线结构,安装维护简单
4.国外进口高精度电离室
5.多层铅板结构防辐射
6.专业的间歇涂布数据处理
7.高级SPC控制图
8.驱动系统:高精度伺服驱动
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