三元材料粉体材料粒度分析

  【锂电世界】SEM设备的代表性厂家有美国FEI、日本日立(Hitachi)、日本电子(JEOL)等，不同厂家都有推出不同型号性能的设备，需求者可依据自己的产品检测需求和经济情况进行选择。

    粉体粒度是粉体材料的主要指标之一，用的粉体粒度测试方法有筛分法、沉降法、它直接影响产品的工艺性能和使用性能。目前常显微镜法、电感计数法、激光粒度法以及电超声法等。表1列出了以上几种方法的适用范围、测试原理及方法参考标准等。

    三元材料产品的颗粒大小在微米级，依据以上粒度测试方法的优缺点可知，选用静态光散射法即激光衍射法最为适合，目前行业内三元材料粒度测试基本上都采用激光衍肘法。