SEM应用实例 三元材料形貌分析

  【锂电世界】   扫描电镜最常用于材料的形貌分析，可以用来研究合成条件对材料形貌的影响，结合其他测试方法可以确定合成路线，或对材料的性能进行解释。给出深圳市天骄科技开发有限公司在不同的合成条件下生产的NCA样品，除了可以观察形貌还可以看出一次颗粒的大小。由可见，合成条件对一次颗粒的大小有较大影响。

    为了提高图像分辨率，必须设法抑制那些造成背景的二次电子SE2，在常规扫描电镜中只能减小加速电压，使作用区变小，但电子束亮度会明显下降，图像衬度和信噪比变差。给出深圳市天骄科技开发有限公司生产的NCM811前驱体样品在不同加速电压下的扫描电镜图。由可以看出在SkV加速电压下样品的分辨率较好。
   
    但是在场发射扫描电镜中，物镜内安装了环形二次电子探测器，分辨率显著改善。